【應(yīng)用分享】ITECH在半導(dǎo)體Power IC領(lǐng)域的測(cè)試應(yīng)用
來(lái)源:艾德克斯
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作者:sztaiqin
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發(fā)布時(shí)間: 2020-12-16
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半導(dǎo)體,指常溫下導(dǎo)電性能介于導(dǎo)體與絕緣體之間的材料,半導(dǎo)體產(chǎn)品主要分為四大類,分別包含集成電路(IC),光電子器件,分立器件和傳感器, ITECH針對(duì)封裝后的IC的測(cè)試,半導(dǎo)體激光器,光電照明器件的測(cè)試,二極管,三極管,場(chǎng)效應(yīng)管,可控硅,IGBT,保險(xiǎn)絲,繼電器等分立器件以及傳感器的測(cè)試都有配套的解決方案,如IC老化測(cè)試,供電測(cè)試,分立器件的導(dǎo)通測(cè)試等,尤其是半導(dǎo)體激光器的測(cè)試,依托于IT-M3100和IT6000C的CC/CV優(yōu)先權(quán)設(shè)定以及環(huán)路速度可調(diào)的功能,可有效抑制開(kāi)機(jī)過(guò)沖,保護(hù)半導(dǎo)體DUT。
隨著手機(jī)、平板、智能穿戴產(chǎn)品的普及,對(duì)于集成協(xié)議的移動(dòng)電源SoC的需求也在增長(zhǎng)。ITECH更推出IT8500G+直流電子負(fù)載,內(nèi)置多達(dá)8 種豐富的快充協(xié)議,滿足對(duì)于快充適配器,移動(dòng)電源、快充充電寶等產(chǎn)品的測(cè)試。采樣帶寬可達(dá)300kHz,配合內(nèi)置的紋波測(cè)試功能,可協(xié)助工程師輕松完成DUT 電壓和電流紋波的量測(cè),同時(shí)也具備自動(dòng)測(cè)試、電池放電測(cè)試、動(dòng)態(tài)測(cè)試等多種豐富的功能,滿足大部分開(kāi)關(guān)電源、電池等產(chǎn)品研發(fā)階段,生產(chǎn)老化階段的性能測(cè)試需求。