測試方案推薦 溫度控制器WatlowF4T:管理測試環(huán)境條件(如上圖所示);記錄并顯示編程特性執(zhí)行期間的環(huán)境條件;提供一系列SCPI命令以便對溫度艙進(jìn)行遙控。 吉時(shí)利數(shù)采DAQ6510:監(jiān)測環(huán)境, 直到達(dá)到所需的測試條件, 然后執(zhí)行掃描并采集數(shù)據(jù)。 1.簡化操作 2.提高效率 3.方便分析
圖|整體流程工藝示意圖
圖|測試連接示意圖
通過WatlowF4T控制器+DAQ 6510的測試方案,可以方便地使用同一設(shè)備,來監(jiān)測測試艙,并獲得讀數(shù)。憑借吉時(shí)利測試腳本處理器(TSP) 強(qiáng)大的腳本編制功能, 并采用標(biāo)準(zhǔn)以太網(wǎng)連接實(shí)現(xiàn)儀器通信,吉時(shí)利數(shù)采 DAQ 6510可以控制F4T溫度艙控制器。
如果需要進(jìn)行多通道測量,可以用吉時(shí)利數(shù)采DAQ 6510配置相適應(yīng)的7700系列復(fù)用器掃描卡,一臺吉時(shí)利數(shù)采DAQ 6510能支持高達(dá)80通道容量的測試。
吉時(shí)利數(shù)采DAQ 6510觸屏界面設(shè)計(jì),不僅可以助力縮短儀器的設(shè)置時(shí)間,實(shí)時(shí)監(jiān)控測試情況,還能快速對多通道進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。