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老化測(cè)試

   半導(dǎo)體的老化測(cè)試過(guò)程基本上模擬運(yùn)行了芯片整個(gè)壽命，可以用來(lái)作為器件可靠性的檢測(cè)或作為生產(chǎn)窗口來(lái)發(fā)現(xiàn)器件的早期故障。傳統(tǒng)的方法是采用電阻進(jìn)行能耗放電，這一方面會(huì)消耗大量的電能，另一方面會(huì)大大增加輸配電設(shè)備的容量，同時(shí)釋放的熱量會(huì)增加空調(diào)的負(fù)擔(dān)。通常而言，負(fù)載具有負(fù)效率特性、影響了工作環(huán)境質(zhì)量和電力開(kāi)銷(xiāo)。其中最大的問(wèn)題就是電量的浪費(fèi)。比如，一個(gè)典型的100路800W的老化測(cè)試系統(tǒng)就要消耗超過(guò)80KW才能夠提供測(cè)試功能。

   IT-M3300系列小功率回饋式直流電子負(fù)載很好的填補(bǔ)了這一產(chǎn)品空白，既能模擬各種負(fù)載特性，又能將電能無(wú)污染的回饋電網(wǎng)，?U的體積內(nèi)可提供高達(dá)800W的功率吸收。

特性測(cè)試

   IT-M3200高精度直流電源的電流最大可達(dá)10A，分辨率可達(dá)10nA，可以滿(mǎn)足用戶(hù)更多IC測(cè)試需求。另外， IT9100系列功率分析儀可代替電流表，來(lái)完成測(cè)試。

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生產(chǎn)測(cè)試

   在芯片測(cè)試中會(huì)使用直流電源對(duì)芯片進(jìn)行供電，在此類(lèi)測(cè)試中需要大量小體積、高精度、可編程直流電源。近期，數(shù)百臺(tái)IT-M3120高精度可編程直流電源集成于測(cè)試臺(tái)為用戶(hù)完成其產(chǎn)線(xiàn)生產(chǎn)測(cè)試需求。

    IT-M3100系列擁有擴(kuò)展輸出電流、電壓的功能?？梢愿鶕?jù)用戶(hù)不同要求的電流、電壓值，采用并聯(lián)、串聯(lián)的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)。并聯(lián)運(yùn)行時(shí)，最多可并聯(lián)4臺(tái)。串聯(lián)運(yùn)行時(shí)，可連接2臺(tái)。透過(guò)串并聯(lián)功能可支持多種不同功率的待測(cè)物測(cè)試，并且使用戶(hù)的使用更為彈性，設(shè)備的使用率大幅提高。